LT100覆層測厚儀 涂層測厚儀
LT100覆層測厚儀 涂層測厚儀本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體（ 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 ）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導電覆蓋層的厚度（如：琺瑯、橡膠、油漆、塑料等）。
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LT100覆層測厚儀 涂層測厚儀
本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆蓋層的厚度(如：琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。更多設備參數(shù)性能、可咨詢-/
在國內(nèi)產(chǎn)品中，測量精度 高（*），速度 快，穩(wěn)定性好。且操作方便，外形美觀。主要測量金屬表面涂、鍍層的厚度。
LT100覆層測厚儀 涂層測厚儀本儀器能廣泛地應用在電鍍、防腐、航天、航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測領(lǐng)域。既可用于實驗室，也可用于工程現(xiàn)場。配置不同的探頭，適用于不同場合。它是無損檢測行業(yè)的儀器。
功能特點
●兩種工作方式：直接方式和成組方式轉(zhuǎn)換
●兩種測量方式：單次測量和連續(xù)測量（大面積內(nèi)快速獲取讀數(shù)）轉(zhuǎn)換公、英制轉(zhuǎn)換
●開機后顯示 后一個讀數(shù)
●背景照明（可選擇）
●聲音提示數(shù)據(jù)已讀取
●可設置數(shù)據(jù)的測量范圍，聲音提示數(shù)據(jù)超出允許的測量范圍
●具有測量數(shù)據(jù)存儲功能
●具有測量數(shù)據(jù)的統(tǒng)計計算功能
●具有測量數(shù)據(jù)的刪除功能（刪除當前測量值，刪除當前組測量數(shù)據(jù)，刪除當前組所有數(shù)據(jù)）
●可存儲5組數(shù)據(jù)，每組100個，共500個數(shù)據(jù)
●全中文菜單
●多種校準方式
●具有手動和自動關(guān)機功能
標準配置：主機、探頭（F1或N1）、基體、試塊、5試片（50µm、100µm、200µm、500、1000µm）、9V堿性電池
選配件：打印機、各種探頭
探頭 | F400 | F1 | F1/90 | F10 | N400 | N1 | CN02 | ||||
測量原理 | 磁性 | 渦流 |
| ||||||||
測量范圍（μm） | 0～400 | 0～1250 | 0～10mm | 0～400 | 0～12500 | 10～200 | |||||
測量精度μm | 一點校準 | ±[(1～3)%H+0.7] | ±（3%H+1） | ±（3%H+10） | ±（3%H+1） | ±（3%H+1.5） | ±(3%H+1) | ||||
二點校準 | ±（1～3％H+0.7） | ±[(1~3)%H+1] | ±[(1～3)%H+10] | ±[(1～3)%H+1] | ±[(1～3)%H+1.5] | --- | |||||
低限分辨率 | 0.1 | 0.1 | 1 | 0.1 | 0.1 | 1 | |||||
小曲率半徑(mm) | (凸)1 | 1.5 | 平直 | 10 | 1.5 | 3 | 僅為平面 | ||||
小面積直徑(mm) | ￠3 | ￠7 | ￠40 | ￠4 | ￠5 | ￠7 | |||||
基本臨界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 2 | 0.3 | 0.3 | 無限制 | |||||
LT系列儀器選用探頭的技術(shù)數(shù)據(jù)
測頭選用參考表
覆蓋層基體 | 有機材料等非磁性覆蓋層（如：漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽極化處理等） | 非磁性的有色金屬覆蓋層（如：鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等） | |||
覆蓋層厚度不超過100μm | 覆蓋層厚度超過100μm | 覆蓋層厚度不超過100μm | 覆蓋層厚度超過100μm | ||
如鐵、鋼等磁性金屬 | 被測面積直徑大于30mm | F400型測頭0～400μm | F1型測頭 | F400型測頭0～400μm | F1型測頭 |
被測面積直徑小于30mm | F400型測頭0～400μm | F400型測頭0～400μm | F400型測頭0～400μm | F400型測頭0～400μm | |
如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬 | 被測面積直徑大于10mm | N1型測頭0～1250μm | 僅用于銅上鍍鉻N1型測頭0～40μm N400測頭0～40μm | ||
被測面積直徑大于10mm | N400測頭0～400μm | N400測頭0～40μm | |||
塑料、印刷線路非金屬基體 | 被測面積直徑大于7mm | -- | -- | CN02型測頭10～200μm | |
